分析・機器
高性能の分析・解析機器によって迅速な分析が可能です。
帝国イオンは既存めっきが海外に移管されることに危機感を感じ、オンリーワン企業を目指すために独自機能めっきの開発を進めてきました。
これを節目に、お客様の製品の膜厚や寸法を測定する検査機器だけでなく、開発に必要な各種分析・解析機器を揃え、自社内で解析ができる環境を整えてきました。
現在は、試作の評価を迅速に行えること、さらには、SQCを品質管理の基盤にしていることが強みになっております。
その技術を応用して試作だけでなくめっき加工で発生した不良の解析を行い、お客様に直ちにフィードバックさせていただく事で信頼関係を深めております。
めっきの分析・評価のご依頼を承ります
様々な評価に対応した分析・解析設備
表面観察の実施例
SEMによる表面観察
（×2000）
素材のピンホール
マイクロスコープによる表面観察
（×450）
クロムめっきのクラック
レーザー 顕微鏡による表面観察
（×2000）
２D 観察
レーザー 顕微鏡による表面観察
（×2000）
３D 観察
表面観察機器
SEM-EDS
日本電子社製
試料の50～10000倍の表面観察ができます。
表面観察と成分分析でマッピングを行うことが可能です。
元素マッピング
観察画像
レーザー顕微鏡
オリンパス社製
100～3000倍の表面観察ができます。非接触のためサンプルを傷つけることなく、
表面観察、形状測定が３Dで可能です。
断面からの膜厚測定
レーザー顕微鏡による鉄素材上のニッケルめっき膜厚測定
測定物をカットし、樹脂に埋め込んだ後表面を研磨し断面を観察します。
この時に、最表面と素材との境目の距離で膜厚を測定します。
| No. | 膜厚 |
| ① | 15.704 |
| ② | 15.704 |
| ③ | 16.152 |
マイクロスコープ
キーエンス社製
25～175倍までの表面観察ができます。
イオンミリング装置
日立ハイテクサイエンス社製
表面または断面の超精密研磨ができます。
断面観察試料作製機
ＰＲＥＳＩ社製
切断、樹脂埋め、表面研磨を行い、断面観察試料の作製ができます。
成分分析機器
蛍光X線分析計
日立ハイテクサイエンス社製
非接触破壊で固体、液体などの元素分析ができます。
ICP発光分析装置
日立ハイテクサイエンス社製
誘導結合プラズマ（ICP）の光源で試料溶液の元素分析ができます。
TG－DTA装置
日立ハイテクサイエンス社製
測定試料の温度による性質変化の分析ができます。
めっき皮膜評価機器
蛍光X線膜厚計
日立ハイテクサイエンス社製
非接触で単層の膜厚や多層めっきにおける各層のめっき膜厚の測定ができます。
蛍光Ｘ線膜厚計による鉄素材上のニッケルめっき膜厚測定
測定物を非破壊で測定できます。
測定可能サイズは500×400×150まで可能です。
ほとんどのめっき皮膜の測定が出来ます。
金属によって、限界測定膜厚があります。
| めっき厚さ | 20.63±0.58[µm] |
| 素材 | 5000.00±0.00[µm] |
ビッカース硬度計
フューチュアテック社製
ダイヤモンドの圧痕から硬度の測定ができます。
粗さ測定器
ミツトヨ社製
プローブを移動させ表面粗さを測定することができます。
摩擦摩耗試験機
ブルカー社製
摩擦係数を測定することができます。
ピンオンディスク方式、ブロックオンリング方式での試験が可能です。
塩水噴霧試験機
スガ試験機社製
めっきや塗装皮膜の塩水に対する耐食性評価ができます。
粒度分布計
島津製作所社製
微粒粉末の粒度分布測定ができます。
めっき液分析機器
分光光度計
日立ハイテクサイエンス社製
溶液成分の定量ができます。
サルファメーター
山本鍍金試験器社製
Crめっき中の硫酸濃度の分析ができます。
TOC計
三菱化学アナリテック社製
水溶液中の有機物の測定ができます。
